W związku z formalnym zakończeniem realizacji prac I fazy projektu pn. „Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny Głównego Urzędu Miar – Etap I – Faza I”, a także zaplanowanym rozpoczęciem prac II fazy, w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym GUM w Kielcach miało miejsce spotkanie prasowe, którego gościem – na zaroszenie profesora Jacka Semaniaka, prezesa GUM – była Marszałek Województwa Świętokrzyskiego Renata Janik.
Budowa Świętokrzyskiego Kampusu Głównego Urzędu Miar rozpoczęła się w 2021 roku. Na kieleckim Telegrafie, u podnóża góry Hałasa, stanęło 6 budynków laboratoryjnych. Są w nich prowadzone badania z zakresu akustyki i drgań, czasu i częstotliwości, długości, masy, termometrii, metrologii interdyscyplinarnej. Do dyspozycji naukowców są nowocześnie wyposażone pomieszczenia laboratoryjne o powierzchni blisko 2,5 tysiąca metrów kwadratowych, z których niektóre wybudowane zostały także pod ziemią. Jest tu na przykład najcichsze miejsce w Europie – doskonale wygłuszona duża komora akustyczna. Do tego dochodzi kolejne blisko 800 metrów kwadratowych pomieszczeń pomocniczych i warsztatów.
Inwestycja kosztowała w sumie około 250 mln zł. Z tej kwoty prawie 173 miliony złotych na postanie Kampusu przekazał samorząd Województwa Świętokrzyskiego. Pieniądze pochodziły z Regionalnego Programu Operacyjnego Województwa Świętokrzyskiego na lata 2014- 20. Zarząd Województwa Świętokrzyskiego zdecydował też o dofinansowaniu II etapu kampusu kwotą blisko 90 mln zł – pieniądze te pochodzą z programu „Fundusze Europejskie dla Świętokrzyskiego 2021- 2027”. Świętokrzyski Kampus Głównego Urzędu Miar został zrealizowany przez konsorcjum, w skład którego weszły dwie instytucje – Główny Urząd Miar, jako partner strategiczny, oraz Politechnika Świętokrzyska.
Dzisiejsze spotkanie prasowe w kampusie GUM związane było z oddaniem do użytku kolejnego obiektu w ramach kampusu, tj. Laboratorium Czasu i Częstotliwości. Zostało ono wyposażone w nowoczesne urządzenia metrologiczne, m.in. w stanowisko laserowe do pomiarów częstotliwości promieniowania laserowego w zakresie widzialnym i podczerwonym, przyrząd do pomiarów zarysów kształtów (umożliwia pomiary odchyłek kształtu elementów obrotowych), skaner światła strukturalnego czy współrzędnościową maszynę pomiarową – do pomiarów wielkości geometrycznych detali o dużych gabarytach.
Napisz komentarz
Komentarze